JEOL - Microscopio elettronico a scansione JSM-5600 (SEM) - 1998

Microscopio elettronico a scansione (SEM) JEOL JSM-5600 prodotto in Giappone. Apparecchiature di laboratorio per l'analisi delle superfici e la caratterizzazione dei materiali. Equipaggiato con il rilevatore EDS Oxford Instruments modello 6587 (ATW2), risoluzione dichiarata di 138 eV a 5,9 keV, sistema di analisi a raggi X elementali, camera di campionamento inclinabile e sistema a vuoto. Include una colonna elettronica, un tavolo antivibrazione, un rivelatore EDS Oxford Instruments e componenti visibili nelle fotografie. Condizioni visivamente complete. È consigliabile verificare il funzionamento del sistema a vuoto, del cannone elettronico, dell'elettronica di controllo e del software prima della commercializzazione.